Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
Administrateur HAL Nanterre : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.parisnanterre.fr/hal-01421675
Soumis le : jeudi 22 décembre 2016-16:27:44
Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-16:26:03
Citer
Mohamed Guellil, Paul C. Montgomery, Pierre Pfeiffer, Bruno Serio. Comparison of areal measurements of the same zone of etched Si and hydroxyapatite layers on etched Si using different profiling techniques. Proceedings of SPIE Optical Micro- and Nanometrology V, Brussels, Belgium, April 14, 2014, Apr 2014, Bruxelles, Germany. pp.913204--913204--9, ⟨10.1117/12.2051476⟩. ⟨hal-01421675⟩
Collections
62
Consultations
0
Téléchargements